| 一、電子電工產(chǎn)品IEC60068-2/GB/T2423 | |
| 1、低溫試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.1:2008;IEC60068-2-1:2007 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下的使用、運輸或貯存的能力 |
| 試驗方法/條件 | Ab非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗 Ad非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-溫度穩(wěn)定后通電 Ae非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-整個過程通電 |
| 嚴(yán)酷等級 | 溫度:-65℃;-55℃;-50℃;-40℃;-33℃;-25℃;-20℃;-10℃;-5℃;5℃ |
| 時間 | 2h，16h，72h，96h |
| 匹配設(shè)備 | 小型環(huán)境試驗箱、小型超低溫試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室 |
| 設(shè)備要求 | 溫度變化速率不超過1K/min(不超過5min的平均值) 試驗空間溫度容差±2K |
| 2、高溫試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.2:2008;IEC60068-2-2:2007 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的使用、運輸或貯存的能力 |
| 試驗方法/條件 | Bb非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗 Bd非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-溫度穩(wěn)定后通電 Be非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗-整個過程通電 |
| 嚴(yán)酷等級 | 溫度:1,000℃;800℃;630℃;500℃;400℃;315℃;250℃;175℃;155℃;70℃;65℃;60℃;55℃;50℃;45℃;40℃;35℃;30℃ |
| 時間 | 2h，16h，72h，96h，168h，240h，336，1,000h |
| 匹配設(shè)備 | 小型高溫試驗箱、高溫試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室 |
| 設(shè)備要求 | 溫度變化速率不超過1K/min(不超過5min的平均值) 試驗空間溫度容差±2K |
| 3、濕熱試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.3:2006;IEC60068-2-78:2001 GB/T2423.4:2008;IEC60068-2-30:2005 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán)) |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高濕環(huán)境下的使用、運輸或貯存時的適應(yīng)性 |
| 試驗方法/條件 | 恒定濕熱試驗 |
| 嚴(yán)酷等級 | 溫/濕度(30±2)℃(93±3)%RH;(30±2)℃(85±3)%RH;(40±2)℃(93±3)%RH;(40±2)℃(85±3)%RH; |
| 時間 | 12h，16h，24h，2d，4d，10d，21d，56d |
| 匹配設(shè)備 | 小型恒溫恒濕試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室 |
| 設(shè)備要求 | 試驗空間溫度容差±2K，任何兩點偏差小于1K，短期波動小于0.5K |
| 4、溫度/濕度組合循環(huán)試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.34:2005;IEC60068-2-38:2009 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 主要用于元器件類試驗樣品，以加速方式來確定試驗樣品在高溫、高濕和低溫條條件作用下的耐受性能。 (采用高相對濕度下的溫度循環(huán)并產(chǎn)生水汽進(jìn)入部分密封試驗樣品的“呼吸”作用;還包含低溫暴露，以測定周期性結(jié)冰對試驗樣品的影響)。 |
| 試驗方法/條件 | (25±2)℃(93±3)%→1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%5.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%8h→ 1.5h～2.5h→(65±2)℃(93±3)%13.5h→1.5h～2.5h→(25±2)℃(93±3)%24h(17.5h)→0.5h→(-10±2)℃21h→1.5hh→(25±2)℃(93±3)%24h(3.5h)24h為一個循環(huán)，一般10個循環(huán);前9個循環(huán)內(nèi)5個循環(huán)加入低溫試驗 |
| 嚴(yán)酷等級 | |
| 時間 | |
| 匹配設(shè)備 | 小型環(huán)境試驗箱、高低溫(濕熱)試驗箱、高性能高低溫(濕熱)試驗箱、一體式步入試驗室 |
| 設(shè)備要求 | 1.5h～2.5h內(nèi)溫度在(25±2)℃～(65±2)℃之間變化恒溫和升溫期間，相對濕度保持在(93±3)%， 降溫時能保持在80～96%30min以內(nèi)能夠從(25±2)℃降到(-10±2)℃;90min(-10±2)℃升到(25±2)℃ |
| 5、溫度變化試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化 試驗Na:規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力 |
| 試驗方法/條件 | 溫度從低溫試驗和高溫試驗規(guī)定的試驗溫度中選取 循環(huán)次數(shù)5次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定 |
| 嚴(yán)酷等級 | 嚴(yán)酷等級由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時間和循環(huán)次數(shù)確定 |
| 時間 | 暴露時間為3h，2h，1h，30min或10min 轉(zhuǎn)換時間(2～3)min，(20～30)s，＜10s 恢復(fù)時間≤0.1暴露時間 |
| 匹配設(shè)備 | 小型提籃式冷熱沖擊試驗箱、大型提籃式冷熱沖擊試驗箱、冷熱沖擊試驗箱 |
| 設(shè)備要求 | 風(fēng)速小于2m/s;恢復(fù)時間小于10%暴露時間;箱壁溫度不超過試驗溫度的3%(高溫)和8%(低溫)(開爾文溫度)且樣品不直接受到輻射 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化 試驗Nb:規(guī)定溫度變化速率的溫度變化 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力 |
| 試驗方法/條件 | |
| 嚴(yán)酷等級 | 嚴(yán)酷等級由高低溫度值、轉(zhuǎn)換時間和循環(huán)次數(shù)確定 溫度從低溫試驗和高溫試驗規(guī)定的試驗溫度中選取 溫變速率為不超過5min的平均值，(1±0.2)℃/min、(3±0.6)℃/min、(5±1)℃/min 循環(huán)次數(shù)2次或者相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定 |
| 時間 | 暴露時間為3h，2h，1h，30min或10min |
| 匹配設(shè)備 | 小型快速溫度變化試驗箱，快速溫度變化試驗箱，溫度循環(huán)試驗箱 |
| 設(shè)備要求 | 風(fēng)速小于2m/s、恢復(fù)時間小于10%暴露時間、箱壁溫度不超過試驗溫度的3%(高溫) 和8%(低溫)(開爾文溫度)且樣品不直接受到輻射。 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.22:2002;IEC60068-2-14:2009 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化 試驗Nc:兩液槽法溫度快速變化 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度快速變化的能力 |
| 試驗方法/條件 | 低溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的低溫TA液體(0℃)、高溫槽裝有相關(guān)規(guī)范規(guī)定的高溫TB液體(100℃)、 低溫槽溫度不超過溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃ |
| 嚴(yán)酷等級 | 嚴(yán)酷等級由規(guī)定的槽液溫度、轉(zhuǎn)換時間及循環(huán)數(shù)來確定(兩組標(biāo)準(zhǔn)條件) 循環(huán)次數(shù)為10次或者相關(guān)規(guī)范規(guī)定 |
| 時間 | t2=(8±2)s5min≤t1＜20min(t2:轉(zhuǎn)換時間、t1:暴露時間) t2=(2±1)s15s≤t1＜5min |
| 匹配設(shè)備 | 液槽試?yán)錈釠_擊試驗箱 |
| 設(shè)備要求 | 高低溫液槽，便于樣品浸入及迅速轉(zhuǎn)換 低溫槽溫度不超過溫度值的2℃、高溫槽溫度不低于溫度值的5℃ 液體與試驗樣品的材料和保護(hù)層適應(yīng) |
| 6、潤濕性非飽和高壓蒸煮試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.40-1997;IEC60068-2-66/1994 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 試驗樣品在相對短的時間內(nèi)承受的未飽和濕熱蒸汽的作用 |
| 試驗方法/條件 | 如相關(guān)規(guī)范有要求，應(yīng)在暴露期間給試驗樣品施加偏壓 試驗結(jié)束，箱內(nèi)的壓力、溫度和相對濕度在1~4h內(nèi)回復(fù)到測量和試驗用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件 |
| 嚴(yán)酷等級 | |
| 時間 | |
| 匹配設(shè)備 | 高壓加速老化試驗箱 |
| 設(shè)備要求 | 能夠產(chǎn)生要求的溫度和相對濕度，并能維持給定的壓力 提供受控試驗條件并按要求的斜率上升或下降到規(guī)定的試驗條件 能夠監(jiān)測溫度和濕度，試驗前可以水蒸氣把空氣排出，不允許冷凝水跌落在試驗品上 結(jié)構(gòu)材料不應(yīng)引起試驗樣品腐蝕或加濕水的水質(zhì)劣化 |
| 7、絕緣電阻可靠性測試 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | JPCA-ET04:2007 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 絕緣電阻試驗 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 對實裝前印刷電路板在高溫高濕及加電的條件下進(jìn)行電子化學(xué)遷移及絕緣劣化進(jìn)行評價試驗 |
| 試驗方法/條件 | (JPCA-ET01～09:2007，日本電子回路工業(yè)會，01通則，0240℃93%RH，0360℃90%RH，0485℃85%RH， 05溫度循環(huán)，06溫濕度組合(低溫)，07溫濕度組合，08不飽和蒸汽壓，09結(jié)露循環(huán)) |
| 嚴(yán)酷等級 | 10E12以上電阻測量，DC5～100V |
| 時間 | 2,000h連續(xù)運行可能 |
| 匹配設(shè)備 | |
| 設(shè)備要求 | 溫濕度箱:出風(fēng)口風(fēng)速2.5m/s以上;分布±2℃±3%RH;不會造成試樣及加濕水污染;無凝露水滴落 絕緣電阻測試儀:測量范圍E6～E12Ω(E13Ω參考值);內(nèi)置電源，試驗電壓及測量電壓能夠任意選擇;測量電阻范圍能夠自動選擇，加電時間能夠滿足規(guī)范JISZ3197(ANSIJSTD004)要求 |
| 9、鹽霧試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.17:2008;IEC60068-2-11:1981 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka:鹽霧 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力，也適用于評定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性 |
| 試驗方法/條件 | 鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(35±2)℃時PH值6.5～7.2內(nèi) 試驗箱的溫度維持在(35±2)℃，收集鹽霧每小時的沉降量在1.0～2.0mL之間及測試PH值 |
| 嚴(yán)酷等級 | |
| 時間 | 16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h |
| 匹配設(shè)備 | SQ系列 |
| 設(shè)備要求 | 試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h; 足夠的空間內(nèi)條件穩(wěn)定均一，鹽霧不能直接噴射到樣件上，冷凝水不能跌落到樣品上 有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力，噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧 |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.18:2000;IEC60068-2-52:1996 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液) |
| 試驗?zāi)康?/td> | 適用于預(yù)定耐受含鹽大氣的元件或設(shè)備，其耐受程度隨選用的嚴(yán)酷等級定 |
| 試驗方法/條件 | 鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(20±2)℃時PH值6.5～7.2內(nèi) 噴霧溫度在15～35℃，收集鹽霧每小時的沉降量在1.0～2.0mL之間 |
| 嚴(yán)酷等級 | 嚴(yán)酷等級(1):(2h噴霧周期+7天的濕熱貯存)*4次 嚴(yán)酷等級(2):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次 嚴(yán)酷等級(3):(2h噴霧周期+20h～22h濕熱貯存)*3次+標(biāo)準(zhǔn)大氣3天貯存 嚴(yán)酷等級(4),(5),(6):分別為(3)*2次、4次、8次 |
| 時間 | |
| 匹配設(shè)備 | SQ系列+J系列 |
| 設(shè)備要求 | 試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧。 濕熱箱:(93-3+2)%、溫度40℃±2℃ 標(biāo)準(zhǔn)大氣箱:溫度23℃±2℃、濕度45%～55% |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T10125:1997;ISO9227:2006 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 人造氣氛下的腐蝕實驗-鹽霧試驗 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力，也適用于評定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性 |
| 試驗方法/條件 | 鹽溶液濃度(5±1)%(質(zhì)量比)，(35±2)℃時PH值6.5～7.2內(nèi)試驗箱的溫度維持在(35±2)℃，收集鹽霧每小時的沉降量在1.0～2.0mL之間及測試PH值 |
| 嚴(yán)酷等級 | |
| 時間 | 16h，24h，48h，96h，168h，336h，672h |
| 匹配設(shè)備 | SQ系列 |
| 設(shè)備要求 | 試驗條件維持在規(guī)定的容差內(nèi)35±2℃,1ml～2ml/80cm^2•h;足夠的空間穩(wěn)定均一、鹽霧不能直接噴射到樣件上、冷凝水不能跌落到樣品上、有排氣口(防風(fēng)保護(hù))維持箱內(nèi)的壓力、噴霧裝置形成細(xì)小、潤濕、濃密的霧 |
| 11、振動試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.10:2008;IEC60068-2-6:2007 GB/T2423.56:2006;IEC60068-2-64:2008 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fh:寬帶隨機(jī)振動和導(dǎo)則 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品經(jīng)受規(guī)定嚴(yán)酷程度(正弦、寬帶隨機(jī))振動的能力 |
| 試驗方法/條件 | Fc的嚴(yán)酷等級--有三個參數(shù)確定:頻率范圍、振動幅值、耐久試驗的持續(xù)時間(定頻耐久、掃頻耐久);規(guī)范中選取 Fh的嚴(yán)酷等級—有四個參數(shù)確定:頻率范圍、加速度譜密度值、加速度譜密度的譜型、試驗持續(xù)時間;規(guī)范中選取 |
| 嚴(yán)酷等級 | |
| 時間 | |
| 匹配設(shè)備 | 電動振動試驗系統(tǒng) DC-3200-36:31.36KN(3,200kgf),980m/s2,51mmp-p,2～2,500Hz |
| 設(shè)備要求 | |
| 12、溫度振動試驗 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)編號 | GB/T2423.35:2005;IEC60068-2-50:1983 GB/T2423.36:2005;IEC60068-2-51:1983 |
| 標(biāo)準(zhǔn)名稱 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z－AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫－振動(正弦)綜合試驗 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z-Bfc:散熱和散熱試驗樣品的高溫－振動(正弦)綜合試驗 |
| 試驗?zāi)康?/td> | 確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在(低溫/高溫)與振動綜合條件下使用、貯存和運輸?shù)倪m應(yīng)性。 |
| 試驗方法/條件 | |
| 嚴(yán)酷等級 | 低溫試驗/高溫試驗確定溫度的嚴(yán)酷等級 從振動試驗Fc確定振動的嚴(yán)酷等級 |
| 時間 | |
| 匹配設(shè)備 | 溫度、濕度、振動三綜合試驗設(shè)備 |
| 設(shè)備要求 | |
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